①测试座设计成翻盖结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。 ②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。 ③测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使IC与PCB...